- Кацнельсон А. А. Введение в физику твердого тела. М.: Изд-во МГУ, 1984. 293 с.
- Шаскольская М. П. Кристаллография. М.: Высшая школа, 1976. 392 с.
- Алешина Л. А., Репникова Е. А. Структура аморфных материалов и природа дефектов в них. Петрозаводск: Изд-во ПГУ, 1995. 112 с.
- Рао Ч. Н. Р., Гопалакришнан Дж. Новые направления в химии твердого тела. Новосибирск: Наука, 1990. 520 с.
- Приборы и методы физического металловедения. т. 1, 2 / под ред. Вейнберга Ф. М.: Мир, 1973. 427 с., 364 с.
- Микроскопический анализ фазового состава и структуры металлов и сплавов. Метод. указ. к лабораторной работе. Петрозаводск: изд-во ПетрГу, 1994.
- Аристов В. В., Ерко А. И. Рентгеновская оптика. М.: Наука, 1991.133 c.
- Синхротронное излучение / Под ред. К. Кунца. М.: Мир, 1981. 600 c.
- Джеймс Р. Оптические принципы дифракции ренттгеновских лучей. М.: ИИЛ, 1950. 572 с.
- Алешина Л. А., Шиврин О. Н. Дифракция рентгеновских лучей в кристаллах. Петрозаводск: Изд-во ПГУ, 2001. 100 с.
- Уманский Я. С., Скаков Ю. А., Иванов Л. Н., Расторгуев Л. Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. М.: Металлургия, 1982. 631 с.
- Тейлор А. Рентгеновская металлография. М.: Металлургия, 1965. 663 с.
- Гинье А. Рентгенография кристаллов. М.: Гос. изд-во ф-м лит. 1961. 604 с.
- Липсон Г., Стипл Г. Интерпретация порошковых рентгено-грамм. М.: Мир, 1972. 384 с.
- Индицирование рентгенограмм некубических сингоний. Метод. указ. к лабораторной работе. Петрозаводск: изд-во ПетрГу, 19 г.
- Горелик С. С., Расторгуев Л. Н., Скаков Ю. А. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. М.: Металлургия, 1971. 367 с.
- Рентгенографический фазовый анализ. Метод. указ. к лабораторной работе. Петрозаводск: изд-во ПетрГу, 1997 г .
- Дифракционные методы исследования структуры кристаллов. Метод. указ. к лабораторной работе. Петрозаводск: изд-во ПетрГу, 2001 г .
- Определение периода решетки кубических кристаллов различными методами. Метод. указ. к лабораторной работе. Петрозаводск: изд-во ПетрГу, 2002 г .
- Чернышев В. В. Определение кристаллических структур по порошковым данным // Изв. АН. Сер. хим. 2001. С. 2171-2190.
- Алешина Л. А., Фофанов А. Д. Рентгеноструктурный анализ аморфных материалов. Петрозаводск: Изд-во ПГУ, 1987. 85 с.
- Определение характеристик структуры некристаллических материалов. Метод. указ. к лабораторной работе. Петрозаводск: Изд-во ПГУ, 2000. с.
- Уонг Дж. Исследование металлических стекол методом ТСРП // Металлические стекла. М: Мир, 1983. С. 71-120.
- Ведринский Р. В. EXAFS -спектроскопия – новый метод структурного анализа // Соросовский образовательный журнал. 1996. № 5. С. 79 - 84.
- Солдатов А. В. От спектроскопии EXAFS к спектроскопии XANES : новые возможности исследования материи // Соросовский образовательный журнал. 1998. № 12. С. 101 - 104.
|