ВВЕДЕНИЕ

Основу элементной базы современной электронной промышленности составляют твердотельные элементы.

Физические свойства материалов обуславливаются их структурой. Именно поэтому получение, накопление и систематизация экспериментальных данных о структурном состоянии веществ и его изменениях в результате различного рода внешних воздействий является одной из наиболее важных задач современной науки о конденсированном состоянии.

Под структурой вещества в физике твердого тела и кристаллографии понимают конкретное расположение в пространстве образующих его частиц - атомов, ионов, молекул.

С начала 19 века главную роль в идентификации и характеризации атомно-молекулярной структуры играют рентгеновские дифракционные методы, в основе которых лежит взаимодействие электромагнитного излучения рентгеновского диапазона с веществом. Наряду с этим к настоящему времени разработаны и продолжают разрабатываться новые более мощные методы, позволяющие как расширить диапазон получаемой информации, так и получить новые сведения, недоступные из-за ограниченности дифракционного эксперимента.

Развитие физики твердого тела показало, что не менее важной и необходимой является с одной стороны информация об атомной структуре и дефектах атомной структуры, с другой - информация об ультра-, микро- и макроструктурном состоянии. Эту информацию можно получить как из дифракционных экспериментов, так и методами оптической и электронной микроскопии.

Прежде чем рассматривать физические основы ряда указанных методов, остановимся на некоторых общих вопросах и представлениях, необходимых для дальнейшего понимания предмета.

Сайт управляется системой uCoz